EnglishDịch Vụ Kiểm Tra IC Trọn Gói & Toàn Diện
Giải pháp kiểm tra IC tùy chỉnh, bao gồm phát triển chương trình kiểm tra, chuyển đổi đa nền tảng, hỗ trợ nhiều loại gói IC, đặc tính thiết bị và kiểm tra độ tin cậy, đáp ứng mọi yêu cầu của khách hàng.
Tại Sao Chọn VNST?
Mang đến giải pháp toàn diện, đổi mới và chất lượng cao, thúc đẩy sự phát triển bền vững của ngành công nghiệp bán dẫn
Giá cạnh tranh
Giải pháp kiểm thử và thiết kế với chi phí tối ưu, đảm bảo giá trị cao nhất cho khách hàng.
Dịch vụ linh hoạt
Tùy chỉnh giải pháp để đáp ứng chính xác nhu cầu của từng khách hàng.
Công nghệ nổi bật
Kiểm thử tốc độ cao đến 10 Gbps, song song trên 128 pin, và điện áp cao đến 2000V.
Quick Turnaround Time
Thời gian thực hiện nhanh chóng, giúp rút ngắn chu kỳ phát triển sản phẩm.
Các Quy Trình Kiểm Tra IC Quan Trọng
Kiểm Tra Chức Năng (Functional Testing)
Mỗi IC phải vượt qua bài kiểm tra chức năng để đảm bảo hoạt động theo đúng thông số thiết kế. Các phương pháp kiểm tra bao gồm:
- JTAG Boundary Scan – Kiểm tra kết nối chân IC mà không cần cấp nguồn.
- Built-in Self Test (BIST) – Cho phép IC tự chẩn đoán lỗi nội bộ mà không cần thiết bị bên ngoài.
- Parallel Scan – Tăng tốc kiểm tra bằng cách chạy chẩn đoán song song trên nhiều IC.
Kiểm Tra Tham Số (Parametric Testing)
Đánh giá các đặc tính điện và vật lý của IC để đảm bảo hiệu suất và độ tin cậy:
- Signal Integrity – Phân tích chất lượng tín hiệu để phát hiện nhiễu và suy hao.
- Thermal Test – Đánh giá hiệu suất IC ở nhiệt độ cao để đảm bảo độ bền.
- Leakage Test – Đo dòng rò để xác định lỗi thiết kế hoặc sản xuất.
- Power Integrity – Kiểm tra độ ổn định của hệ thống phân phối nguồn trong IC.
- ESD Test (Kiểm Tra Phóng Tĩnh Điện) – Đánh giá khả năng chống phóng tĩnh điện, giúp IC tránh hư hỏng do sốc điện.
Công Nghệ Kiểm Tra Tiên Tiến
Ứng dụng các phương pháp kiểm tra hàng đầu trong ngành nhằm đảm bảo chất lượng vượt trội và hiệu suất tối ưu cho mọi sản phẩm bán dẫn
Scan Chains
Phương pháp kiểm tra có cấu trúc, tuần tự dữ liệu qua các flip-flop, hỗ trợ phát hiện lỗi logic và xác thực đường truyền nội bộ một cách hiệu quả
Tìm hiểm thêm
Built-in Self-Test (BIST)
Cơ chế kiểm tra được tích hợp ngay trong IC, cho phép thiết bị tự kiểm tra lỗi chức năng và cấu trúc, giúp giảm phụ thuộc vào thiết bị kiểm tra bên ngoài và nâng cao hiệu quả.
Tìm hiểm thêm
Failure Analysis
Phân tích lỗi IC theo phương pháp hệ thống, sử dụng các kỹ thuật hiện đại như hiển vi điện tử quét (SEM) và ảnh nhiệt để xác định vị trí lỗi chính xác.
Tìm hiểm thêm
Burn-in Test
Phép thử chịu tải, đưa IC vào môi trường nhiệt độ và điện áp cao nhằm phát hiện các lỗi xảy ra sớm, đảm bảo độ ổn định và độ bền lâu dài của thiết bị
Tìm hiểm thêm
Boundary Scan Testing (JTAG)
Phương pháp kiểm tra không xâm lấn cho IC số, phát hiện lỗi mà không cần tiếp xúc chân IC. Đặc biệt hiệu quả với gói BGA, đảm bảo kiểm tra toàn diện và gỡ lỗi nhanh chóng
Tìm hiểm thêm
VNST đã trở thành đối tác chiến lược quan trọng, đảm bảo chất lượng và độ tin cậy cho các sản phẩm FPGA của chúng tôi trước khi đến tay khách hàng tại Mỹ và Châu Âu.
VNST has become a key strategic partner, ensuring the quality and reliability of our FPGA products before they reach customers in the US and Europe.